粒度分析

1.技术原理

激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性，所以一束平行的激光在没有阻碍的无限空间中将会照射到无限远的地方，并且在传播过程中很少有发散的现象。

当光束遇到颗粒阻挡时，一部分光将发生散射现象。散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ。散射理论和实验结果都告诉我们，散射角θ的大小与颗粒的大小有关，颗粒越大，产生的散射光的θ角就越小；颗粒越小，产生的散射光的θ角就越大。散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。这样，在不同的角度上测量散射光的强度，就可以得到样品的粒度分布了。

详细实验步骤参考SY/T 5434-2018《碎屑岩粒度分析方法》，下载该标准请转到本网站“下载中心”栏目里“分析方法及标准”。

2.主要仪器简介

德国莱驰CAMSIZER X2粒度分析仪

新Camsizer X2可以极大提高精细粉末的质量控制：粒度和粒形分析更精确，耗时更短，有助于提高粉末质量控制，降低废品率和节省实验消耗。Camsizer X2的设计基于广受欢迎的Camsizer并进一步优化精细样品的测量条件（从0.8 μm到8 mm），不仅提高了光学解析度，更提供多样的的进样方式适用不同应用。超微细粉末很容易团聚，导致测试单个颗粒很难。因此，选择合适的进样方式非 常重要，保证团聚样品能充分分散的同时不被破坏形状。Camsizer X2提供灵活快速的模块切换方式：从最温和的进样方式X-Fall模块（自由落体模式)转换到X-jet模块,可以调整气压和喷嘴大小，或装换到X-flow模块，带有超声分散的液态分散方式。

技术指标：

（1）粒度范围：0.8μm～8mm（与折射率，浓度，散射角有关）；

（2）专利双镜头系统（ISO 13322-2）

（3）有效分析少量接近“下限”和“上限”的颗粒样品

（4）测量时间短至 1-3分钟

（5）粒度分布数据详尽-可以支持1000个粒级以上

（6）一次测量，可同时得到粒度，粒型，颗粒数，密度和透明度等信息

（7）非接触，无损测试

（8）校正快捷方便

（9）支持自动测量操作

3.测试须知

    送样需求：不少于10g样品，需重复测试；

    测试周期：提前预约5-15个工作日内完成；

    测试报告：客户所获数据展示。