岩石学分析
XRD(X-ray diffraction 的缩写),中文翻译是X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
XRD岩石矿物组分分析
应用日本理学最新高分辨率衍射仪Smartlab SE、黏土分析专用软件Rockquan和Clayquan,参照最新国家测试标准,由具有丰富经验的专家测试并分析岩石中各组分含量,测试结果准确、周期短。
了解更多 >主量元素
用玻璃熔片法制样,采用经验系数法进行基体校正,在X射线荧光光谱仪上进行测量,根据荧光强度计算主、次成分的量。
了解更多 >微量元素
样品用氢氟酸和硝酸在封闭溶样器中溶解,电热板上蒸发赶尽氢氟酸,再用硝酸密封溶解,稀释后用ICp-MS外标法直接测定。
了解更多 >微区表面结构观察与成分定性分析
探测器收集电子束轰击样品表面产生的二次电子与背散射电子,获取纳米尺度下样品表面的形貌信息,结合EDS对样品表面成分进行定性定量分析
了解更多 >薄片鉴定
将矿物或岩石标本磨制成薄片,在偏光显微镜下观察矿物的结晶特点,测定其光学性质,确定岩石的矿物成分,研究它的结构、构造,分析矿物的生成顺序,确定岩石类型及其成因特征,最后定出岩石的名称。
了解更多 >氩离子抛光
离子研磨属于无应力研磨,不会对样品表面造成机械损害,被广泛应用于电子材料、半导体、光伏材料、锂离子电池、页岩、矿石、陶瓷、金属材料、高分子材料、生物材料等等领域。
了解更多 >流体包裹体测温测盐
均一化温度测定:选取气-液两相包裹体(捕获时为单一相的包裹体),利用热台加热到某一温度时气-液二相转变为一相,恢复包裹体形成时的相态,记录下恢复时的瞬间温度即为该包裹体均一温度。
了解更多 >电子探针
用细聚焦电子束入射样品表面,激发出样品元素的特征X射线。分析特征X射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)。分析X射线的强度,则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分析)
了解更多 >碳、氧同位素
MAT253 稳定同位素质谱仪通过与气相色谱仪(GC)、元素分析仪(EA)、GasBenchII多用途在线气体制备与导入系统、红外激光烧蚀系统等辅助设备的联用,由氦气流将待测样品转换生成的二氧化碳带入同位素质谱仪进行碳、氧同位素组成测定,可全面实现石油、天然气、岩石矿物、沉积物、植物、水体等各种样品的碳、氢、氧 氮等稳定同位素组成分析。。
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