薄片鉴定

1.技术原理

       将矿物或岩石标本磨制成薄片，在偏光显微镜下观察矿物的结晶特点，测定其光学性质，确定岩石的矿物成分，研究它的结构、构造，分析矿物的生成顺序，确定岩石类型及其成因特征，最后定出岩石的名称。详细实验步骤参考SY/T 5368-2016《岩石薄片鉴定》，下载该标准请转到本网站“下载中心”栏目里“分析方法及标准”。

 2.主要仪器简介

奥林巴斯显微镜BX53

       奥林巴斯显微镜BX53是一款高精度显微镜，配制有5X到100X的物镜，最大可放置65mm样品，最小刻度为1μm，同时配制500万像素的高清摄像机，可以拍照及录像，能满足所有薄片鉴定的需求。

       光学参数：

    （1）UIS2全校正型无误差修正光学系统；

    （2）三目宽视野观察筒，含10倍目镜，FN22mm，带十字测微尺；

    （3）5孔明暗场物镜转盘；

    （4）高级半复消色差明暗场物镜，倍数分别是5X,10X,20X,50X,100X；

    （5）明场和暗场两种观察方法。可看背光和绿油；

    （6）手动调焦，最大可放置65mm样品，微调最小刻度单位为1μm；

    （7）具有孔径光阑和视场光阑；

    （8）大型机械载物平台；

    （9）配制上下LED光源系统；

    （10）OLYSIM图像采集及测量系统；

    （11）500万高清摄像机，500万像素，USB图像传输接口；

    （12）0.5倍大视野接口；

    （13）标准校正片一片；

    （14）专业影像测量软件，可拍照，另存图片，丰富测量功能：点、长度、角度、圆、不规则图形等测量功能，如点到点，线线距离，点到线距离，圆，角度，面积，等，拍照图片与测量结果图片可及时转换为WPS档办公文件和报表。

 3.测试须知

       送样需求：

        测试周期：提前预约，10-20个工作日内完成。